جهت دسترسی به کاربرگه ی زیر، از این لینک استفاده کنید. http://localhost/handle/Hannan/325
عنوان: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay.
پدیدآورنده: Kay, Nicholas D. author. ;
تاریخ انتشار: 2018
توضیحات : 

ALMA ;












Maskinellt genererad post. endra kod fer fullstendighetsnive (leader/17), annars kommer manuellt gjorda endringar att fersvinna. ;

Tdig ; ALMA ;
Print ; Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay. ; 9783319701813 ;
آدرس: http://localhost/handle/Hannan/325
شابک : 978-3-319-70181-3 (Print) ;
مجموعه(های):مهندسی مدیریت ساخت

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9783319701813.pdf7.99 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل
عنوان: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay.
پدیدآورنده: Kay, Nicholas D. author. ;
تاریخ انتشار: 2018
توضیحات : 

ALMA ;












Maskinellt genererad post. endra kod fer fullstendighetsnive (leader/17), annars kommer manuellt gjorda endringar att fersvinna. ;

Tdig ; ALMA ;
Print ; Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay. ; 9783319701813 ;
آدرس: http://localhost/handle/Hannan/325
شابک : 978-3-319-70181-3 (Print) ;
مجموعه(های):مهندسی مدیریت ساخت

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9783319701813.pdf7.99 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل
عنوان: Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay.
پدیدآورنده: Kay, Nicholas D. author. ;
تاریخ انتشار: 2018
توضیحات : 

ALMA ;












Maskinellt genererad post. endra kod fer fullstendighetsnive (leader/17), annars kommer manuellt gjorda endringar att fersvinna. ;

Tdig ; ALMA ;
Print ; Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals : A Scanning Probe Microscopy Approach / by Nicholas D. Kay. ; 9783319701813 ;
آدرس: http://localhost/handle/Hannan/325
شابک : 978-3-319-70181-3 (Print) ;
مجموعه(های):مهندسی مدیریت ساخت

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9783319701813.pdf7.99 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل