جهت دسترسی به کاربرگه ی زیر، از این لینک استفاده کنید. http://localhost/handle/Hannan/3083
عنوان: VLSI design and test.
تاریخ انتشار: 2019
محل نشر: New York, NY :
ناشر: Springer Berlin Heidelberg,
توضیحات : 











QA76

آدرس: http://localhost/handle/Hannan/3083
شابک : 9789811359491 ;
اطلاعات بیشتر: pages cm ;
مجموعه(های):مدیریت فناوری اطلاعات

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9789811359491.pdf89.03 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل
عنوان: VLSI design and test.
تاریخ انتشار: 2019
محل نشر: New York, NY :
ناشر: Springer Berlin Heidelberg,
توضیحات : 











QA76

آدرس: http://localhost/handle/Hannan/3083
شابک : 9789811359491 ;
اطلاعات بیشتر: pages cm ;
مجموعه(های):مدیریت فناوری اطلاعات

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9789811359491.pdf89.03 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل
عنوان: VLSI design and test.
تاریخ انتشار: 2019
محل نشر: New York, NY :
ناشر: Springer Berlin Heidelberg,
توضیحات : 











QA76

آدرس: http://localhost/handle/Hannan/3083
شابک : 9789811359491 ;
اطلاعات بیشتر: pages cm ;
مجموعه(های):مدیریت فناوری اطلاعات

پیوست های این کاربرگه
فایل توضیحات اندازهفرمت  
9789811359491.pdf89.03 MBAdobe PDFتصویر
مشاهده فایل